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[讨论] 校准时经常出现这种现象具体是怎么回事!

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发表于 2010-10-11 14:10:45 | 显示全部楼层 |阅读模式
【文件名】:101011@52RD_设置参考.doc
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发表于 2010-10-13 19:24:15 | 显示全部楼层
以下是引用fanfool在2010-10-13 13:19:51的发言:
出现这个的原因多的很,希望大家一人说一点!凑成个完整的.....有时我感觉要重新装驱动!有时我重新注销启动会好!有时把那文件换一下也会好!不知什么原因?

个人认为:从你的角度逐一排除。。。很明显LZ还不确定到底是什么引起的。。。
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 楼主| 发表于 2010-10-13 13:19:51 | 显示全部楼层
出现这个的原因多的很,希望大家一人说一点!凑成个完整的.....有时我感觉要重新装驱动!有时我重新注销启动会好!有时把那文件换一下也会好!不知什么原因?
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发表于 2010-10-13 04:47:11 | 显示全部楼层
计算机内可能已经有一MTK平台在运行啊!你打开程序管理器,试着看下。
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发表于 2010-10-12 19:07:17 | 显示全部楼层
出现这个的原因多的很 检查一下RF线及设置有没有
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 楼主| 发表于 2010-10-12 08:28:43 | 显示全部楼层
1. EVM_F3_4_0V_P_SP31 或 EVM_F8_4_0V_P_SP31
这两个测试项是在供电4.0V时在F3和F8两个频点测量的矢量误差幅度。
EVM是英文Error Vector Magnitude的缩写,其中文意思是矢量误差幅度。矢量误差是描述调整信号的性能,表示实际的调制信号与标准的信号的矢量差。对于不同的通信系统,其EVM要求也不大相同。对于仪表输出的EVM值一般在1%以内,经过发信单元中各器件的作用,输出信号质量会变差。

我们在测量的时候看见的就是解调星座图的误差, EVM的大小和信号信噪比有定量关系,信噪比和误码率有直接关系,但无法直接测量,所以射频调制系统就采用EVM值测量来进行系统测量,通常我们用矢量信号分析仪可以得出这一数值, 现在我们iDEN生产中采用Agilent E4406A 来进行测量.

EVM包括幅度误差、相位误差、频率误差等。

影响EVM 指标的主要因素:
    发射通道射频部分通常包括I Q信号低通滤波, 主要滤除远端杂散如抽样频率等, I Q 滤波后进行正交调制正交调制后产生一窄带中频信号, 这时一般要加一个窄带声表滤波器以减少杂散辐射和对相邻信道的影响, 然后对中频信号进行上变频再滤波放大最后馈入功放进行功率放大输出, 在发射通道结构采用零中频方式的通讯设备,比如在Largo中,直接将I Q 信号变换到射频, 它虽然省略了中频单元但对EVM 等指标的分析也是一样的.
   
下面列出7 个影响EVM指标的因素:
    1. I Q 支路增益不平衡, 存在增益差.
    2. 正交调制器中本振移相不精确.
    3. 载波泄露.
    4. 本振相位噪声的影响.
    5. 通道滤波器的幅频特性不理想一般中频声表影响较大.
    6. 通道滤波器的相频特性不理想一般中频声表影响较大.
    7. 通道的非线性失真,一般功放的非线性较为严重.
以上七个方面各自的影响是可认为是独立的, 也就是说这七个方面可以分开考虑
2. TX_IMB_TUN_F3_5361
这个测试包括下面两个测试项:
   TX_IMB_RAW_F3
   TX_IMB_TUND_F3 (不一定测试)
    TX_IMB_RAW_F3 是测量I通道和Q通道的功率差值,(I减去Q),如果测得的差值在-1.2至1.2之间,此测试项目PASS,如果它的值刚好又在-0.2至0.2之间,它将不测试TX_IMB_TUND_F3.
如果差值不在-1.2至1.2之间,测试将自动调整I或Q的功率,并把这个误差值Save保存. 之后测试TX_IMB_TUND_F3,此时所测的是值应在-0.2至0.2之间,否则报告坏板故障。
3.CROSMOD_SQE
在F1,F7两个频率点测量手机接收强信号时的信号质量(SQE), 输入信号强度为-17dBm, (此时应发送命令把接收衰减器打开),观察SQE读数.

4.REF_OSC_F1
接收调整测试,与FREQ_OFFSET_FX意义相同.计算得到一个偏移量,存入odeplug.用以矫正基准频率(见CODE PLUG, FREQ_OFFSET_FX)

5. RS232  
    此测试将DSR 与 DTR and DCD 与 RI形成两条回路, 软件发送命令之后数据通过两个回路, 然后报告PASS或FAIL.

6. COIN_CELL_V  (COIN VOLTAGE READING)  
    读微型(纽扣)电池电压, 在电池的测试点加1.5V的直流电压, CPU应当能正确的读取电压数, 测试范围是1.39 ~ 1.61

7. COIN_CELL_CHRG  (COIN CELL CHARGER VERIFICATION)
    微型(纽扣)电池充电校验, 测试时在电池测试点设定一个消耗200微安电流(3V时)的负载电阻, 模拟充电测试.

8. BOARD_ON_CURRENT
    此项测试与以前旧机型的AVG_STBY_CUR测试类似, 测量手机在待机状态所消耗的平均电流, 在维修位如何判断? ---- 点击分析软件的DEEP_SLEEP按键, 使手机处于睡眠状态, 等待8秒钟后, 手机从睡眠状态恢复, 此时看(仪器)电源的电流消耗, 这个电流值即 BOARD_ON_CURRENT.

9. MOD_CURRENT (Long Key I710特有)
     与BOOTLOADU相同.

10. PA_INIT
     测量PA功率放大器的初始(未发射时)的温度.

11.  PA_FINAL
    测量PA功率放大器工作(发射)一段时间后的温度减去PA_INIT温度值.
    要注意的是,”一段时间”它视具体手机的型号而异, 不同于在Largo,测完PA_INIT后, 紧接着马上测试PA_FINAL. 而在Marathon,它的时间要比Largo长得多,一直要到测试完AUTO_PWR_F1 后才测试PA_FINAL. 从这点来说, Marathon的PA_FINAL测试项是比较容易误测的.

12. AGC_ATT_OFF800_70_Fx
在U203内部有一个20dB 的衰减器,(见电路分析的接收部分) 在DEBUG 维修位用分析软件在RX/TX Tab点击AGC_ TUNNING按键,可以观察到这个值.它的范围是22到28.指明U203内部衰减器工作的衰减值.
(可以想象, 在天线端加一个 -70dBm这么强的信号, U203内部衰减器是一定要启动的)
(附带说明, RSSI的值也需要点击AGC_ TUNNING按键来测量,这样才是准确的, 而不是用看BER误码那种旧的方式来测量)
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发表于 2010-10-11 18:53:13 | 显示全部楼层
谢谢分享
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发表于 2010-10-20 12:47:30 | 显示全部楼层
测试方法详解
[em02]
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发表于 2010-11-24 00:37:29 | 显示全部楼层
帮顶下,!!
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发表于 2012-5-6 17:51:51 | 显示全部楼层
好帖学习,受益了
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发表于 2015-8-5 21:53:35 | 显示全部楼层
好帖see
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发表于 2015-9-22 12:02:19 | 显示全部楼层
学习了
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发表于 2015-10-7 20:42:26 | 显示全部楼层
同问  想学学
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发表于 2015-10-12 16:44:41 | 显示全部楼层
学到了
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发表于 2015-10-13 14:44:40 | 显示全部楼层
学习了
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发表于 2015-11-30 13:51:15 | 显示全部楼层
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