[清华]芯片测试讲义

RFICer · 发表于 2006-1-8 21:40:00

【文件名】:0618@52RD_芯片测试讲义.rar
【简　介】:
【目　录】:
BIST
BoundaryScan
CombinationalTG
dft
FaultSim
Fundamentals
IDDQ
MemoryTest
SequentialTG
tm
【格　式】:rar
【大　小】:2252K

Suker · 发表于 2006-1-10 23:14:00

资料怎么样啊，谁买了，评论一下撒[em05]

zmh · 发表于 2006-10-11 21:23:00

是啊。。我现在比较穷不敢乱买资料啊[em01]

yajiangtian · 发表于 2006-10-22 21:05:00

[em10]这资料也要钱,太黑了!!

dawdler · 发表于 2006-11-23 10:25:00

太黑了

feihuakeji · 发表于 2006-12-2 12:22:00

有免费的，大家请留意

hpy013 · 发表于 2006-12-8 10:22:00

这个资料，大家可以到http://www.icedu.net去下载

LIUZHIHAI313 · 发表于 2007-7-5 17:16:00

到底怎么样呀！！？？[em13]

lihaisong · 发表于 2007-7-12 15:15:00

买了看看,现在正忙着测试,说不定能用上
[em08]

langren2008 · 发表于 2009-8-18 22:27:00

下来看看先。

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