测试TRP/TIS

mouyuedong

目前在测试暗室过程中发现如下问题请教各位高手：
1。采用偶极子天线测试暗室路径损耗后做8960的补偿与用在同耀测过的NOKIA6679做路径补偿值及在飞创测试的值做路径补偿不同。我们如何来看待同样是ETS的系统结果不同。系统校准标准的传递源头应该如何选取。
2。偶极子和喇叭的校准可以溯源到中国计量院，而仪表的精度大概有0.5，我们的仪表精度最多0.5，用这样的测量集来标定我们的测试系统，则系统误差不可能高于2，这样的结果我想ETS和SATIM也一样。他们的系统也是要有源头的。哪怎么能保证天线的测试精度。
3。8960的测试能力和动态范围有限制，路径损耗太大补偿的太高则测试结果不准，如果减小喇叭和转台的距离则低频测试影响不大，高频远场条件受限制，影响大，如果采用高增益喇叭和宽带放大器和微波多路开关则上行和下行通道路径损耗不同测试不准，请问如何取舍。

henryYP

以下是我的一些体会，供参考：
1.关于天线暗室的校准补偿，应该以偶极子天线的校准结果为基准，用参考样机所做的补偿应该是只能做为参考；关于不同的测试系统测试结果不同的原因比较复杂，影响的因素很多，本人觉得测试人员的测试结果的影响占的比重较大，其次不同测试系统之间的测试结果有差异是很正常的，只要测试结果的偏差在一定的范围内就可以，尤其OTA的测试
2.要保证天线的测试精度，应该将测试的各种不确定度降低到较小的程度，你可以参考一下CTIA Test Plan 附录中关于测试不确定度的讨论会有收获，当然大部分的因素我们不能掌控（作为终端用户的角度），是由仪器或系统供应商的产品性能决定的
3.采用你说的用高增益的喇叭和宽带放大器和微波多路开关是大部分通用系统的方式，测试的数据是有保证的

mouyuedong

非常感谢HENRY YP的指导.还有个问题想请教,
测试TIS的时间太长,我们采用的优化办法是快速降落收敛法,但时间还是太长,听说国外的办法是采用在呼叫功率固定的状态下快速全向扫描RX LEVEL值,然后测试RX LEVEL最小方向误码率为2.44%时的CELL POWER,由此得到各方向的EIS,再积分得到TIS,这中方法在一定条件下成立,其他条件不成立,效率高但精度降低,是否可行?

henryYP

谈不上指导，只是大家共同探讨一下技术问题，LZ客气了！
你说的用RX LEVEL 去测试TIS 的方法是测试过程中常用的，但是没有被CTIA所认可，测试效率极大提高，大概一个BAND 三个信道的测试时间不到十五分钟，但是测试精度肯定会降低，因为它是用单点的TIS与RX LEVEL之差对其它的测试点做同样的补偿，建议在精确测试的时候还是要用TIS的算法去测；但是在研发整改的过程中可以使用此方法。
关于你提到的快速降落收敛法是怎样进行的呢？谢谢！

mouyuedong

1. 设置起点条件:CELL POWER=-60,(确保开始能呼上不掉线);
2.CELL POWER 收敛的开始步长 STEP0;COUNT=1000
3.读BR,当BR=1.5%时,STEP1=0.5STEP0;COUNT=5000
4.当BR大于2.44%时,再反向STEP2=0.5STEP1;
5.重复3,4直到STEP小于0.5,且BR2.3-2.6%,或收敛深度为小于8.
如果采用RX LEVEL方法,必须做全空间的补偿,这样前期测试工作要求高,其次测试每个点时要分别补偿,也会影响效率.

woailaogong

haha

12SOS

喜欢这个专门讨论技术的帖子

两位继续，我在这里学习

dingling

支持,说得不错.