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[讨论] 谐波点的传导与什么有关系?

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发表于 2007-5-9 17:30:15 | 显示全部楼层 |阅读模式
谐波点的传导与什么有关系?针对此问题走线要注意什么?
发表于 2013-12-31 11:14:39 | 显示全部楼层
几个方向 :

1. 降Power    这是最简单的



由上图可知  谐波是来自于组件的非线性效应  当然PA是最可能
同时也可看出  主频Power降了   其谐波也会跟着降
依我经验  主频降个0.5 dBm  二阶谐波大概就会差个2~3 dBm
当然三阶的就降更多了
假设GSM 850/EGSM 900在PCL5的Target Power为32.5 dBm
可以调NV或DAC   降成32 dBm试试



2. 若是高通平台   可以调NV
下图是PA_Enable、ANT_SEL、V_ramp三条曲线。



这三条曲线,对于谐波以及开关频谱,都会有影响,
建议PA_Enable比V_ramp早开启,而且最好能早一段时间。
而Ant_sel可以比PA_en早开启,也可以比PA_en晚开启,看怎样的NV值   其谐波以及开关频谱会最低。


3. 检查DC Block
由第一点的图可知  DC Offset也是非线性效应之一
若流入PA跟ASM   会使其线性度下降
除非是PA跟ASM已有内建DC Block  否则PA的input跟output
都要摆放DC Block   检查一下是否有放



4. 在PA输入端   就将谐波砍掉  避免因为PA的非线性效应  
  使其谐波更加恶化   但这要看PA input的摆放零件
  假设PA input只放一个串联的DC Block  
  那你只能自己额外放一个落地电容来砍谐波
  以GSM 850为例   可以放一个5.6 pF的落地电容



由上图可以看到  对于二阶谐波  大概有5 dB的insertion Loss
对于三阶谐波  大概有8 dB的insertion Loss


特别注意的是   在设计电容值时   不是谐波抑制能力越大越好
因为一般普通的COG电容   其频率响应   不会只砍到谐波  
同时也会砍到主频  假设放10 pF的落地电容
可以看到二阶谐波  大概有16 dB的insertion Loss
三阶谐波  大概有22 dB的insertion Loss
但主频也被砍了5 dB   另外落地电容会使阻抗偏掉
换句话说  会有Mismatch Loss  在这情况下  10pF的落地电容
其insertion Loss跟Mismatch Loss加一加   
可能会使主频的讯号过低  甚至低于PA输入范围的下限
  
同时我们也看到   虽然三阶谐波的抑制能力更好
但三阶谐波的频率  已座落在谐振频率的右边
换言之  此时是利用该落地电容的电感性去砍三阶谐波
把电容当电感用  某种程度上会有一些未知的风险  最好是极力避免
而前述的5.6 pF落地电容  其二三阶谐波都座落在谐振频率的左边
同时主频只被砍了2 dB  即便加上阻抗偏掉造成的Mismatch Loss
原则上都还在PA输入范围内
况且砍一些主频的能量   跟方法1的降Power有相同意义
可以更降低PA的非线性效应
所以在设计落地电容时  
可以砍主频  但不要砍太多  至少要确保加上Mismatch Loss后
都还在PA输入范围内
同时最好确保其谐波频率   都座落在谐振频率的左边


5. 承第4点  若PA input摆放π型   那原则上只能串联DC Block
   然后再摆一颗落地电容   
  若同样以GSM 850为例  那就是只摆一颗5.6 pF的落地电容   另一个落地组件不上件



倘若另一个落地组件也上5.6 pF  则主频会被砍过多能量



由上图可知  若摆放两个5.6 pF的落地电容  主频会被砍5 dB
前述已说过  不是谐波抑制能力越大越好   还要考虑到主频会不会衰减过大


6. 若PA input摆放T型   那就是DC Block加L型低通滤波器



  而其低通滤波器   建议用LC  不要用RC  
  因为绕线电阻具有很强的电感性, 其寄生电感容易使系统不稳定,
因此不可用于对频率敏感的应用中,例如RF走线   




由上图可知    以5.6pF的落地电容来做比较  如绿色曲线
若采用(8.2nH + 3.3pF)的低通滤波器  如蓝色曲线
其2阶谐波的抑制能力差不多  3阶谐波的抑制能力多了3dB
但主频只衰减了0.6 dB
若采用(12nH + 4.7pF)的低通滤波器  如粉红曲线
其主频衰减量差不多  但2阶谐波的抑制能力多了5 dB  
3阶谐波的抑制能力多了9 dB
这表示相较于单一颗落地电容   其LC低通滤波器的设计上可以较为弹性
同时效果更好
同样的主频衰减量   但谐波抑制能力更好
或是同样的谐波抑制能力  但主频衰减量更小

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发表于 2013-12-31 11:22:02 | 显示全部楼层
criterion 发表于 2013-12-31 11:14
几个方向 :

1. 降Power    这是最简单的

7. Finetune PA Load-pull




由上图可知  不同的Load-pull  会有不同的谐波值
以上图为例  谐波最低处   是位于第四象限
因此可以将PA的Load-pull  Finetune在第四象限
但PA的Load-pull一但更动   其他Tx的性能也会跟着变动
所以前述的落地电容  或低通滤波器  设计在PA输入端
道理在此   因为怕动到PA的Load-pull
而若Finetune后的Load-pull   救了传导杂散   但其他测项Fail
那就得不偿失   而50奥姆的Tx性能  虽不是最好  
但在输出功率  谐波  耗电流……等表现上
大致上还可以接受   所以一般都是Finetune在50奥姆
因此若真要Finetune   顶多是使其更接近50奥姆
除非万不得已   再来考虑是否要Finetune在谐波最低处
同时要确认其他的Tx测项   是否会因此Fail

8. 换PA






如上图所示  一般PA的datasheet  会有谐波的量测值
因此可以换个pin-to-pin但谐波较小的PA
但同第7点  如此一来  其他Tx的性能也会跟着变动
等于Load-pull要重调  Tx测项要重新测试
若新PA救了传导杂散   但其他测项Fail  那就得不偿失
况且现今平台   多半已使用MMPA  
亦即GSM/WCDMA/LTE的Tx性能  通通受影响
影响层面极大  因此除非真的解不掉   再来考虑这步

9. 电源方面
假设收发器或PA的电源  稳压不好  或有IR Drop  或载有高频噪声
都会使Tx性能劣化  当然也包含传导杂散
因此可以先针对收发器跟PA   同时额外供电
倘若问题依旧   那原因就不是出在电源
若问题改善  那就看问题是出在PA的电源  还是收发器电源
一般是出在PA电源居多
稳压方面的话  就加大其电容值   因为电容值越大  其ESR越小  稳压效果越好   
而高频噪声的话  则是看电源走线附近  
有无高速讯号走线   或RF走线
最常见到的情况是   Shielding Cover盖上去后,其传导杂散变大,
而这来自PA的机会较大,如下图 :




因为PA的能量本来就很大,加上体积较大,离Shielding Cover更近,
所以这表示PA耦合到Shielding Cover的能量同样很大,
若Shielding Cover接地良好,原则上PA耦合到Shielding Cover的能量,会通通流到GND,
但若Shielding Cover与Shielding Frame的接触不够好,
那么PA耦合到Shielding Cover的能量,有一部分会反射,
若是打到PA电源,使PA电源上载有RF高频噪声
那传导杂散就会劣化。

此时可以做实验,去验证是否PA输出讯号打到上述走线,如下图 :



记得要加DC Block,避免电源的直流讯号,回灌到CMU跟PA,
原则上这样的实验,其发射性能是一定会劣化,
但要观察是否为Shielding Cover盖上去后的现象,
倘若同样的现象完全复制出来,才可判定Root Cause是PA输出讯号打到电源走线,
例如Shielding Cover盖上去后,其传导杂散会Fail,但相位误差依然Pass,
而上述实验却是传导杂散跟相位误差都Fail,那就不能证明是PA输出讯号打到电源走线。
而若证明出来   确实是Shielding Cover盖上去后,PA输出讯号打到电源走线
那么可透过加强Shielding Cover与Shielding Frame的接触,



以及加强Shielding Cover与Housing金属的接触,



使其耦合到Shielding Cover上的发射讯号,通通流到GND


10. Layout方面

  检查一下稳压电容跟bypass电容  是否离PA过远
若离过远  那么即便你加大稳压电容的值
或是找出高频噪声的频率点   其稳压跟滤波的效果
也会不如预期   如下图



而稳压电容需直接下到Main GND,
便是避免已流到GND的瞬时电流,透过共同的GND,又再流入上述的IC中,
尤其是PA稳压电容,绝不能与其他IC的稳压电容表层一起共地,
否则全都会受瞬时电流影响  如下图 :



至于IR Drop  那就是在PA操作时  量一下电压  看跟预期的相差多少
若相差太多  那就是Layout改版时   电源走线要短一点  线宽宽一点
若是有穿层   记得Via要多打

11. 检查PA是否在架桥下

前述提到,若作了第9点  Coupler回灌PA输出的实验,
但现象却与Shielding Cover盖上去的现象不一致,
那就不能证明是PA输出讯号,打到上述走线。
那么Shielding Cover盖上去后   其传导杂散劣化现象  
可能是来自于Shielding Cover与PA内部Bond Wire的寄生效应,尤其是Shielding Frame的架桥,




因为相较于Shielding Cover,其架桥的高度又更小,
当Shielding Cover盖上去后  会再更进一步压缩PA与架桥的距离   
倘若PA刚好在架桥下方, 那寄生效应会很大,其PA的特性可能会有所改变,导致发射性能劣化,
若问题是来自寄生效应,
那么就是Shielding Cover的高度,以及架桥的位置,要重新调整,
再不然就是PA上方的Shielding Cover,直接破孔开天窗。
所以Placement时,PA尽量不要在架桥跟Shielding Frame的屋檐下方,避免寄生效应。


原则上建议按照上面的顺序
Debug时   永远都是简单的实验先做
那种劳师动众的实验  万不得已  放到最后再做



其他详细原理   可参照








在此就不赘述

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发表于 2014-1-2 09:48:48 | 显示全部楼层
给力啊顶!!
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