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[硬件测试资料] 手机测试常用词汇的中英文对照

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发表于 2006-11-16 18:30:47 | 显示全部楼层 |阅读模式
【文件名】:061116@52RD_手机测试常用词汇的中英文对照.doc
【格 式】:doc
【大 小】:45K
【简 介】:
BTS:基站收发器。
    BSI:电池尺寸。在诺基亚的许多手机中,若该信号不正常,会导致手机不开机。
    BUFFER:缓冲放大器。常出现在VCO电路的输出端。
    BUS:通信总线。
    BUZZ:蜂鸣器。出现在铃声电路。
    BW:带宽。
    CARD:卡。
    CDMA:码分多址。多址接人技术的一种,CDMA通信系统容量比GSM更大,其微蜂窝更小,CDMA手机所需的电源消耗更小,所以CDMA手机待机时间更长。
    CELL:小区。
    CELLULAR:蜂窝。
    CH:信道。
    CHECK:检查。
    CHARG+:充电正电源。
    CHARG-:充电电源负端。
    CLK:时钟。CLK出现在不同的地方起的作用不同。.若在逻辑电路,则它与手机的开机有很大的关系;都在SIM卡电路,则可能导致SIM卡故障。
    CLONE.复制。
    CMOS:金金属氧化物半导体。
    CODEC:编译码器。主要出现在音频编译码电路。
    COL:列地址线。出现在手机的按键电路。
    COM:串口。
    CONNECTOR:连接器。
    CONTACTSEVICER:联系服务商。
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发表于 2007-4-26 20:11:30 | 显示全部楼层
秀逗了
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发表于 2007-4-29 12:02:50 | 显示全部楼层
不会吧,要这么贵啊,就是一些单词啊
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发表于 2007-5-4 11:38:26 | 显示全部楼层
[em12]
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发表于 2007-5-4 16:15:07 | 显示全部楼层
[em03]脑子绣逗了啊!!!
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发表于 2007-5-9 12:47:25 | 显示全部楼层
脑子的确是修逗乐
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