IC测试原理解析

zengsheng77 · 发表于 2006-9-20 15:21:00

第一章数字集成电路测试的基本原理
器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。
首先有一点必须明确的是，测试成本是一个很重要的因素，关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡，以取得最好的成本效率。
第一节不同测试目标的考虑

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孤单抗体 · 发表于 2006-9-27 17:22:00

想看一些关于模拟电路测试方面的资料，不知道楼主有没有？

122013137 · 发表于 2006-11-8 12:58:00

器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的

LIUZHIHAI313 · 发表于 2007-7-6 13:25:00

感谢楼主，不过价钱太贵了，我要把它免费,hehe

learnren · 发表于 2007-8-16 21:35:00

谢谢了 , 谢谢了

learnren · 发表于 2007-8-16 21:38:00

那么贵

learnren · 发表于 2007-8-16 21:39:00

谢谢了 , haogui, 我要买

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