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[IC设计资料] VLSI DFT Lectures Design For test

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发表于 2006-9-6 08:07:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
nVLSI realization process
nVerification and test
nIdeal and real tests
nCosts of testing
nRoles of testing
nA modern VLSI device - system-on-a-chip
nCourse outline
Part I: Introduction to testing
Part II: Test methods
Part III: Design for testability

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