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大家都知道, 矢网可以测S11, 并给出相应的输入阻抗(Zin)
其中所测S11的参考面, 为校准矢网时校准件(开路,短路,匹配)所连接的位置.
此外, 矢网有一功能"electrical delay",可以用于更改上述的参考面.
目前偶遇到一个问题, 就是需测量一个 RF 连接器 是否为50欧特性阻抗的.
这个连接器一头是N头,可直接连到矢网上,而另一头是个探针,相当于一个终端开路的同轴电缆.
因此无法将这个连接器串联在矢网的两个端口之间. 而只能在其另端开路的情况下测试S11.
请问在这种测试条件下, 可否知道该连接器是否为50欧特性阻抗的?
如果是50欧的,我觉得,当通过"electrical delay",改变参考面时, SMITH圆图上的点会围着大圆转动, 毕竟终端开路点是在大圆的最右端的.
但如果不是50欧的, 同样,SMITH圆图上的点也会围着大圆转动, 只是在相同的"electrical delay"设置条件下,转动的角度不同.
我是否可以根据这个角度测量出该连接器的特性阻抗?
另外, 听说还需保证这个连接器内部各点的特性阻抗均为50欧, 我能测量出其内部各点的特性阻抗吗?
非常感谢!
[em08] |
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