关于生产测试中的电池温度校准

hunter1982 · 发表于 2006-8-29 15:19:00

各位好，小弟现在在做生产测试相关的工作，现在我对电池温度校准的实现方法有些迷惑，望各位大虾指点一下：
我们用的是TI平台，电池中间的那个Pad直接连到PMU的ADC_IN, ADC_IN在板子上留有测试点，请教过一位同事，他觉得可以用一个电阻一端接地，另一端接ADC_IN,就用这个电阻来模拟电池里面的热敏电阻，校准时PMU里面的ADC会根据流过这个电阻的电流与里面的参数做对比从而进行修正，但他对这个也不是很熟，说不出个所以然。所以请问一下大家这样的方法是可行的吗？如果不行的话应该怎么做？另外校准的对象是ADC还是PMU里面的电流源或者是其他什么东西？
谢谢了！

chz · 发表于 2006-8-30 15:11:00

根据我的理解，中间那个pad是BAT_ID,是用来判断battery type的，校测时通过连接一个精确的电阻来校准PMU内部的分压电阻R1/R2。
如有不当，请高手斧正。

hunter1982 · 发表于 2006-8-30 16:37:00

好像有4pin电池和3pin电池之分，如果是3pin电池的话中间那个Pad通常是连电池里面的temperature sensor,如果是4pin电池的话中间另外一个pad则是用来判断电池ID的。
[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p>

hunter1982 · 发表于 2006-9-4 15:49:00

没人知道了？

yatelandis · 发表于 2006-9-5 07:36:00

各位能否回答个非常菜的问题,为什么进行温度校准?
是为了防止手机内部存在短路而出现烧坏手机的现象么?

cuijw · 发表于 2006-9-6 08:25:00

电池过热，以免充电、使用过程中伤害用户
另，13/19.5/26MHz时钟对温度也很敏感

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