ARM JTAG 调试原理

maxinus

ARM JTAG 调试原理
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这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。 这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会，希望对想了解ARM JTAG调试的网友们有所帮助。我个人对ARM JTAG的理解还不是很透彻，在文章中，难免会有偏失和不准确的地方，希望精通JTAG调试原理的大侠们不要拍砖，有什么问题提出来，我一定尽力纠正。同时也欢迎对ARM JTAG调试感兴趣的朋友们一起交流学习。
觉得非常经典，所以拿上来分享下。
WP Address Value/Mask Register和硬件断点
WP Address Value/Mask Register和观察点
WP Address Value/Mask Register和观察点

【文件名】:0688@52RD_ARM JTAG 调试原理.pdf
【格　式】:pdf
【大　小】:584K
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maxinus

好书啊，感兴趣的一定要买了