LTE TDD EVM超标一般怎么分析

836130519 · 发表于 2017-10-24 14:39:40

LTE TDD EVM超标一般怎么分析

daben · 发表于 2017-10-25 12:46:31

功率和ACLR呢？应该需要调匹配吧

alienware · 发表于 2017-10-25 13:48:39

软件也可能

52RD网友 *发表于 2017-10-26 13:25:36* · 发表于 2017-10-26 13:25:36

RF test port ----- PA out ----- DA out 逐级测试，看EVM在那里开始恶化

fyu007 · 发表于 2017-10-26 21:28:59

这个问题需要逐段分析，提供的信息太少了。

52RD网友 *发表于 2017-10-27 09:38:12* · 发表于 2017-10-27 09:38:12

有哪些可能呢

836130519 · 发表于 2017-10-27 09:39:02

还有其他原因吗？

LSL123 · 发表于 2017-10-27 10:13:05

路过学习

52RD网友 *发表于 2017-10-27 15:13:56* · 发表于 2017-10-27 15:13:56

Hi，

问题有进展了吗？建议尝试分段测量通路上的EVM——干掉PA，在PA的输入端焊接Cable线，直接观察从RFIC芯片输出的效果，如果从芯片输出EVM就恶化了，很可能和PCB相关了。需要检查PCB

另外，
1）是高通平台吗？如果是的话，是WTR1605/1605L平台吗？（WTR1605要求芯片下方要求做净空处理，相关的VCO电源走线也有要求）
2）只有TDD的EVM恶化吗？如果TDD B39的EVM存在恶化的现象，那么板子上B2的EVM是否存在恶化的现象？（如果同频段的B2是正常的，那么可能和PCB相关）
3）如果条件允许的话可以干掉晶体，直接外灌时钟信号，观察EVM是否恶化？如果正常，很可能是和PCB相关
4）可以尝试修改NV 04212，在原来值的基础上再增大或减小一个值（不要改动太大不然注册不上），有改善的话可能跟PCB相关；或者采用风枪慢慢加热主板，如果EVM在某个温度而改善的话，很可能和PCB相关
5）印象中（不太确认了）记得WTR1605 的TDD频段中TX和RX共用一个本振，如果PCB有问题会导致解调异常表现为EVM恶化，更严重的话会直接掉线
6）上面5步基本上可以确认是否和PCB相关，如果相关建议先看芯片净空是否满足要求；另外观察下和VCO相关的电源线（在电源线路上可以尝试并联7~10pf的电容）

希望可以帮到你~

13760221875 · 发表于 2017-10-29 13:06:28

RF test port ----- PA out ----- DA out 逐级测试，看EVM在那里开始恶化

metalsi · 发表于 2017-10-30 09:29:07

刚解了个这个问题，LAYOUT有关。

lixin8436 · 发表于 2017-11-1 17:26:07

metalsi 发表于 2017-10-30 09:29
刚解了个这个问题，LAYOUT有关。

电源走 Keepout区域了吧

wonders · 发表于 2017-11-3 16:54:51

问题很多哦，之前有个帖子，可以参照下。

		自动登录	找回密码
密码			注册

[讨论] LTE TDD EVM超标一般怎么分析

本帖子中包含更多资源