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[讨论] PA中间的大GND pad点焊接不良造成的影响

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发表于 2015-11-5 23:02:21 | 显示全部楼层 |阅读模式
如题,小弟在一个生产制造商工作,遇到一些在校准时出现fail的情况,有时候加热一下会好,做CT发现PA或者ASM之类的芯片中间公共GND焊接不饱满,想问问大神们,GND接地不良对PA的影响有多大,有没有文献资料,小弟在此谢过~
发表于 2015-11-6 00:19:09 | 显示全部楼层
我这方面没经验,只是觉得是不是焊盘寄生电容的影响?频率多少啊
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发表于 2015-11-6 10:48:01 | 显示全部楼层
有可能有影响。这方面的文献估计没有。
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发表于 2015-11-10 11:17:10 | 显示全部楼层
等待大神~
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发表于 2015-11-10 14:48:31 | 显示全部楼层
PA肚子中间那块地主要是用来散热的,PA的die一般就在其正上方。如果焊接不良会导致上方PA die的结温快速上升,而结温增高又会带来饱和功率下降、噪声增大、记忆效应增加等问题。
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发表于 2015-11-10 15:00:07 | 显示全部楼层
这问题可以这样问
如果PA的中间那个GND Pad  接地不良会怎样?
可参照这个帖子

http://bbs.52rd.com/forum.php?mo ... p;extra=&page=4
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 楼主| 发表于 2015-11-22 19:43:48 | 显示全部楼层
criterion 发表于 2015-11-10 15:00
这问题可以这样问
如果PA的中间那个GND Pad  接地不良会怎样?
可参照这个帖子

感谢大神指导~非常感谢
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发表于 2015-11-26 09:38:05 | 显示全部楼层
学习了
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发表于 2015-11-26 13:11:59 | 显示全部楼层
学习~~~~~~~~~~~~~
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发表于 2015-12-1 19:01:59 | 显示全部楼层
ry thty jmbh nf
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发表于 2016-1-20 09:44:55 | 显示全部楼层
学习啦
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