综测仪测试手机接收灵敏度

sonny407 · 发表于 2015-5-10 18:05:49

手机连接综测仪测试接收灵敏度时，比如LTE在测试座灵敏度能测到-97dbm，直接用cable线焊到收发芯片口能测到-一百多dbm，新手有点费解，接收过程不是从测试座经开关、滤波等器件再到收发芯片吗，为什么在测试座测到的还比芯片口差一些，求高手答疑解惑

52RD网友 *发表于 2015-5-11 08:34:38* · 发表于 2015-5-11 08:34:38

相对应的在芯片口的功率也应该要高一些了吧。

Danel_shine · 发表于 2015-5-11 08:37:32

相对应的芯片口的功率也应该高一些了吧，这样灵敏度就有改善。

roc_yang · 发表于 2015-5-11 09:01:13

插入损耗[em01]

fibocomtest · 发表于 2015-5-11 10:38:45

开关、滤波等器件又不会为功率提供增益，加上INSERT LOSS，差2，3个db也很正常。

sonny407 · 发表于 2015-5-11 18:54:04

fibocomtest 发表于 2015-5-11 10:38
开关、滤波等器件又不会为功率提供增益，加上INSERT LOSS，差2，3个db也很正常。

有点明白了，谢谢

love7 · 发表于 2015-5-13 18:51:17

fibocomtest 发表于 2015-5-11 10:38
开关、滤波等器件又不会为功率提供增益，加上INSERT LOSS，差2，3个db也很正常。

请你在读一次ＬＺ提的问题好吗，笑了！

Beck · 发表于 2015-5-13 19:01:36

楼主测的是传导？

sonny407 · 发表于 2015-5-13 19:30:47

Beck 发表于 2015-5-13 19:01
楼主测的是传导？

是传导

andy11543070 · 发表于 2015-5-14 10:10:46

本帖最后由 andy11543070 于 2015-5-14 11:23 编辑

芯片口的接收灵敏度肯定要比测试座的灵敏度高一点(DB值会高些，这个原来说错了)，因为RF接收从测试座再到IC port,会有一点pcb阻抗不匹配导致的损耗，绝对阻抗匹配是做不出来的。所以只可能尽量设计好pcb及器件选型来减少这块的损耗，论坛有高手解读过这块的设计，你可以查看下别人的帖子。

love7 · 发表于 2015-5-14 11:14:37

本帖最后由 love7 于 2015-5-14 11:15 编辑

LZ的意思是射频口的灵敏度为什么比transceiver差，你仔细看问题了吗？这都回答的什么玩意儿，

andy11543070 · 发表于 2015-5-14 11:21:37

楼上的，你这么会回答，你怎么不回答，道理不一样吗！你妹的，就你知道RF端子的灵敏度DB值比芯片出来的要高，还是低？！愤青一个

andy11543070 · 发表于 2015-5-14 11:25:12

看你楼上笑2个人就知道了，50步笑百步，你做不了百步，你也只是50步而已。大家都是50步。

swat_seal · 发表于 2015-6-15 18:04:54

中间经过的那些无源器件都是有损耗的

w417f · 发表于 2015-8-31 23:45:15

挺有帮助的帖子

Ruidada · 发表于 2015-9-1 12:04:45

能问个问题吗？
请问CMW500是如何进行手机接收灵敏度测试的？具体的测试原理是怎样的？
我也是新人，感谢解答

wangkuna186 · 发表于 2015-9-2 08:47:31

dddddddddddd

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