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[讨论] 2D 天线性能受干扰

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发表于 2015-3-10 12:11:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
各位:
有没有遇到这样的问题,WCDMA B5 在天线暗室里面测试出来的TIS是正常的。
如果把手机放到屏蔽箱里面测试2D天线性能,固定在相同位置,发现不同次的性能相差很远,接收达到了-10dbm.
发表于 2015-3-10 14:31:33 | 显示全部楼层
有干扰。。
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 楼主| 发表于 2015-3-10 14:43:13 | 显示全部楼层
这个干扰要从哪里下手,主板传导正常。该有的屏蔽框也是屏蔽好了的
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发表于 2015-3-10 19:47:58 | 显示全部楼层
发现不同次的性能相差很远,接收达到了-10dbm.
-----------不同次是什么意思?是同一手机多次测试吗?在暗室测试一致性如何?
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 楼主| 发表于 2015-3-11 08:49:32 | 显示全部楼层
是的 ,同一个手机连续测试多次。在暗室测试多次是稳定的TIS。
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发表于 2015-3-11 09:20:45 | 显示全部楼层
那就不用纠结了····暗室测试的一致性是OK 的就行了··那才是一个标准··屏蔽箱的一致性本来的灵敏度就没有保障
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发表于 2015-3-11 09:22:09 | 显示全部楼层
buleskyyang 发表于 2015-3-11 08:49
是的 ,同一个手机连续测试多次。在暗室测试多次是稳定的TIS。

既然暗室测试正常,传导又是好的额,只能是外界干扰了。在屏蔽房里面的屏蔽箱里面测试试试。。。
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发表于 2015-3-11 14:19:19 | 显示全部楼层
你的手机有严重问题:从天线辐射的能量反射后被易感部位耦合,影响接收。
你将手机放在金属板上,有可能在B5 根本接不起电话或无法使用数据业务。
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 楼主| 发表于 2015-3-11 18:55:22 | 显示全部楼层
那现在需要找的是反射部分还是? 因为出现的频点是随机的。
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发表于 2015-3-12 13:26:00 | 显示全部楼层
频点随机?
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发表于 2015-3-13 14:08:21 | 显示全部楼层
[em01]
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发表于 2015-3-13 19:45:35 | 显示全部楼层
同一个位置,多次测试如果有差异,建议:
1.要定位是不是亮灭屏导致的测得RSCP值差异,如果是,说明干扰来自LCD或者TP,DDR等。
2.如果都是亮屏测得,你要定位是不是在通话界面或者在主界面的差异,一般主界面和通话界面的差异在DDR上,可以首先怀疑,分析,定位。
3.如果都是在灭屏下测得的,这根本就很难解释,可以怀疑是否由于TP的黑屏手势造成的影响,
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