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[综合资料] 在CMOS射频集成电路设计中对稳定性的分析

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发表于 2006-6-1 19:18:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
【文件名】:0661@52RD_在CMOS射频集成电路设计中对稳定性的分析.PDF
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发表于 2006-7-25 08:55:00 | 显示全部楼层
晕,原来是 电路与系统学报  上的一篇论文.
摘要:本文详细分析了用于射频集成电路设计的MOS场效应管(MOSFET)的稳定特性。利用米勒(Miller)效
应和y 参数两种方法对MOSFET 的稳定特性做了定性和定量的理论分析,并给出了理论分析和实际仿真的对比结果,
从中可看出理论分析和仿真结果完全相符。最后,本文以一个工作于2.4GHz,0.5μm 工艺的低噪声放大器(LNA)
设计为例,给出了在具体电路设计中,提高整个电路稳定性的方法。
关键词:稳定性;米勒效应;y 参数;MOSFET;低噪声放大器


真希望下次楼主能把资料情况介绍清楚一点.这样我就不用再花这个冤枉钱了.
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