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[资料] 平板电脑DDR2/3 nand flash测试座/老化座/ic socket

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发表于 2014-9-18 11:03:30 | 显示全部楼层 |阅读模式

◆采用手动翻盖式结构,操作方便;
   ◆上盖的IC压板采用摆动式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
   ◆探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
   ◆高精度的定位槽,保证IC定位精确,测试效率高;
   ◆测试准确性高,大大减少误判率;
   ◆采用进口双头针,探针可更换,维修方便,成本低;
   ◆产品通用程度高,只要换IC限位框,即可测试所有内存IC(宽度≤12MM);
   ◆有球无球均可测试(只需更换上盖的IC压板);
   ◆测试寿命长,有效测试10万次以上;
   ◆内置4个EEPROM,通过一个4位开关切换,可存储4组SPD,方便测试,节约时间;
   ◆绝缘材料:FR4、Torlon、PEI、PEEK;  
   ◆测试频率可达9.3GHz;
   ◆可以免费提供相关的技术支持。
深圳鸿怡电子有公司是一家集科研、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test  Socket、CMOS图像传感器IC的测试座,手机、电脑南北桥、Mp3、MP4、打印机、通讯超级终端、显卡、数码相机、机顶盒等的BGA  IC测试架(BGA IC测试治具和BGA测试座)。如QFP测试座,QFN测试座  FPC测试架 内存条测试治具 手机测试治具BGA植球BGA烧录座SENSOR测试治具OV测试架 平板电脑DDR2/3内存颗粒测试架.国产智能手机EMMC/EMCP/CPU,测试EMCP的LPDDR
地址:深圳华强北中电B座3010
电话:13538136711 QQ2027151859

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