关于调试中的一些总结问题

103022554 · 发表于 2014-2-19 12:43:02

各位好，调天线时间不长，有两个项目为例：不同平台，传导指标一样；
但是为什么一个项目调RL 到-6上下 DCS TRP就可以上26db，另一个项目调到-10db DCS的TRP也只有25db的样子；
看了些资料，好像理解为PA端匹配和天线端匹配共轭的问题即理解为类象限问题，但是还是很迷糊，有哪位前辈能解释一下

103022554 · 发表于 2014-2-19 12:46:25

不光只DCS 其他频段也是这样

hddjt · 发表于 2014-2-20 10:06:49

RL好并不代表效率也高

mozhefoxin · 发表于 2014-2-20 10:40:49

看看整机环境，天线周边结构件是不是影响很大？

jr7100226 · 发表于 2014-2-20 11:49:31

RL好而功率低可能有两个原因：
1、RL反应的是反射功率与入射功率的比值。入射功率=反射功率+输出功率+损耗功率。如果你的损耗功率太大，也就是大家说的周围有器件吸收，那么你的反射功率就会减小，网分测到的RL值就会更低。（这个的可能性非常大）
2、就是LOADPULL匹配出现问题。但是这个带来的差距最大只有1-2db，除非CASE的射频LOADPULL调试的非常差。

103022554 · 发表于 2014-2-20 14:09:21

mozhefoxin 发表于 2014-2-20 10:40
看看整机环境，天线周边结构件是不是影响很大？

影响到不大，左方一个spk,子板中间下方一个usb，spk有摘除，没什么影响，usb在中间这个肯定是有干扰但无法排除的

103022554 · 发表于 2014-2-20 14:10:29

jr7100226 发表于 2014-2-20 11:49
RL好而功率低可能有两个原因：
1、RL反应的是反射功率与入射功率的比值。入射功率=反射功率+输出功率+损耗 ...

如何判断器件的吸收？
调试中器件的干扰和吸收可以理解为一个概念吗？

xiaowei520 · 发表于 2014-2-21 13:42:05

如何判断器件的吸收？

jr7100226 · 发表于 2014-2-21 17:49:45

查看器件吸收最有效也是最笨的方法就是一个一个拿掉，看一下影响效率值。
SPK离天线走线最近有多远啊，少于2mm，就可能吸收1-2db的。馈点处的接地好坏，也是有很大影响的

hugeberger · 发表于 2014-2-26 00:12:48

应该去测试下无源状态下的效率，对比下两机器的效率是多少，或者你会有所发现

taurusyang · 发表于 2014-3-14 11:17:31

学习战斗中

feixuedewo · 发表于 2014-3-19 15:05:41

有条件能测试下无源效率就能看出干扰较大的地方来自哪里了,也好针对性的调整pattern

caiyuanbin84 · 发表于 2014-4-24 08:41:21

学习学习！！！

Bxtt · 发表于 2014-4-24 11:31:48

学习学习！！！

w517511432 · 发表于 2014-5-5 19:25:46

不错不错额

zhangsz570 · 发表于 2014-5-10 15:44:26

象限问题！

w517511432 · 发表于 2014-7-22 00:23:23

zhangsz570 发表于 2014-5-10 15:44
象限问题！

象限问题指的是什么，可以详细说下不

xuzhibao · 发表于 2014-7-24 11:21:04

可以重新测一下传导，再就是测试周围器件看看影响大小，然后进行处理

ylant · 发表于 2014-7-24 20:38:32

和射频PA的象限有关

xiaowei520 · 发表于 2014-8-10 15:10:21

平台不一样环境是不是一样啊

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