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[讨论] sensor 二次采样后的锯齿现象

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发表于 2013-11-8 17:14:04 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 hoozh 于 2013-11-8 17:16 编辑

MT9P031 SKIP 3X 后800x600分辨率输出,用在显微镜下,发现锯齿现象挺明显的,不知道有什么解决办法没有? binning 模式似乎作用不是很大

800x600  SKIP 2X



800x600  SKIP 2X BINNING



800x600  SKIP 3X


500 万原图局部 1:1


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发表于 2013-11-9 01:16:40 | 显示全部楼层
为何直接用截取即可?
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发表于 2013-11-9 01:17:17 | 显示全部楼层
去中心位置截取的话,还可以处在最清晰位置
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发表于 2013-11-9 01:20:08 | 显示全部楼层
binning的优势是2个:加大视角;提高感光度;
劣势也明显:降低清晰度
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 楼主| 发表于 2013-11-9 11:02:14 | 显示全部楼层
imsewfo 发表于 2013-11-9 01:17
去中心位置截取的话,还可以处在最清晰位置

但是还是希望视野尽量大一些
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发表于 2013-11-10 22:29:41 | 显示全部楼层
那你只有修改差值模块,减少周边取样了
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发表于 2013-11-10 22:30:08 | 显示全部楼层
错了,应该是"那你只有修改插值模块,减少周边取样了"
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发表于 2013-11-12 13:53:18 | 显示全部楼层
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