系统级芯片的内置式测试

Adelaide

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【简　介】:自动测试模式生成(ATPG)程序来进行VLSI设计生产测试曾经是非常流行的做法，后来为了简化ATPG又加入了电路系统测试，这一技术被称作面向测试的设计(DFT)。但是，随着半导体制造工艺的迅猛发展，一片IC芯片上已经可以包含几百万个门电路，传统的自动测试技术，如ATPG，也越来越无法解决系统级芯片（SOC）生产和测试中的问题。因此，新的SOC测试技术就成为技术人员关注的问题。
【目　录】:
ATPG的局限
内置式自测（BIST）
测试嵌入式存储器
逻辑测试
存在的问题