[ARM资料] JTAG调试原理

发表于 2006-5-7 14:14:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。
【文件名】:0657@52RD_JTAG调试原理.pdf
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