TD的ACLR指标恶化的问题

davidzw · 发表于 2012-9-2 11:58:15

大家好：

最近在调试一个TD项目时发现一个问题：在C443位置加上一颗2.7nH到地电感，TD RX部分的灵敏度提升了2个dbm，达到-112dbm，但是2G部分ACLR指标由未加到地电感前的-40dbm（+/-1.6Mhz）恶化到了-32dbm，直接Fail掉了，查看PCB，没发现有什么可疑的地方，大家有碰到过这个问题么。附件是原理图和PCB截图，请各位指教。
【文件名】:1292@52RD_SCH&pcb.rar
【格　式】:rar
【大　小】:66K
【简　介】:
【目　录】:
忘了传附件，补传上附件。

answerxin3 · 发表于 2013-2-9 09:29:19

是屏蔽罩引起的吗？[em13]

angel2089 · 发表于 2013-9-8 09:46:06

高深的问题哦。

runningblack · 发表于 2013-9-9 11:58:55

不是这个电感的作用是防止静电的么，你的电路上不是电容么

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