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[IC设计资料] 基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究

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发表于 2006-4-30 14:47:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
【文件名】:06430@52RD_基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究[1].part1.rar
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【简 介】:基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究
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 楼主| 发表于 2006-4-30 14:49:00 | 显示全部楼层
【文件名】:06430@52RD_基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究[1].part2.rar
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发表于 2007-8-3 15:36:00 | 显示全部楼层
thank you ! hahahahahaha
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发表于 2008-3-19 22:37:00 | 显示全部楼层
什么东东还这么贵呀[em04]
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发表于 2008-3-19 22:43:00 | 显示全部楼层
[em03]
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发表于 2008-3-19 22:44:00 | 显示全部楼层
只买到半个[em03]
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发表于 2008-4-16 22:44:00 | 显示全部楼层
没有钱

只下了一半
晕[em06]
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发表于 2008-4-28 13:25:00 | 显示全部楼层
1149.1的东西
呵呵
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发表于 2008-6-23 17:40:00 | 显示全部楼层
我怎么会没有钱了阿
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发表于 2008-6-23 17:41:00 | 显示全部楼层
回帖是不是要加钱啊,试一试
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发表于 2008-8-1 09:06:00 | 显示全部楼层
[em05]
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发表于 2008-8-18 10:33:00 | 显示全部楼层
ddddddddd
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发表于 2009-3-16 19:30:00 | 显示全部楼层
顶一下,了解了解。正缺这个那。谢谢楼主了
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发表于 2009-11-5 10:36:00 | 显示全部楼层
也太贵了吧
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发表于 2009-11-5 10:40:00 | 显示全部楼层
还差得远啊
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发表于 2010-1-14 23:17:00 | 显示全部楼层
可以大概了解,做解密的话,还是不一定就是好的参考
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