数字系统可测性数字系统可测性

Nellie

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【简　介】:I
本文主要探讨了用全扫描结构(FULL SCAN METHOD)来实现数字电路
可测性设计(DESIGN FOR TEST)的原理与方法。其中涉及到扫描结构
(SCAN)的算法依据、电路的基本结构、测试矢量的生成(ATPG)以及测
试的时序等诸多问题。并结合最常用的综合工具SYNOPSYS 中的DFT
COMPILER 部分，深入描述了为一数字电路芯片加入扫描部分和产生
测试矢量集的具体流程。扫描结构对数字电路的结构有一些限制，为了
避免违反这些限制，文中罗列了所谓的设计规范，并详细介绍了如何对
违反这些设计规范的电路进行修改和处理的方法。
【目　录】:
1. 可测性设计的概念及发展状况
2. D 算法的原理及实现方法
3. SYNOPSYS 中的测试部分及扫描结构
4. 扫描电路的加入及ATPG 的产生过程
5. 扫描结构对电路的限制
6. 对有问题电路进行的修改