W的射频测试问题

836130519 · 发表于 2012-7-16 14:56:47

小弟最近在测试一款W的手机，测试上行内环功率控制时，当Inner loop test segment 设置为E、F时，手机测试失败，请问此具体原因是什么？谢谢！！！

Rfantasy · 发表于 2012-8-1 17:34:37

首先确定你failed的功率点，是不是在不同功率mode切换点附近

然后按照下面的思路分析，应该能找到问题：
1. 功率校准是不是准确？
2. 如果耦合器集成在PA上，查下PA在不同增益mode下得耦合系数是不是差别很大？
3. PA或者耦合器输出匹配的问题？还是看耦合系数对于不同输出负载的敏感程度。
4. 检查是不是有干扰、噪声影响detector工作，比如harmonic等。

当然楼上说的换PA，对第2,3,4点都会有影响。

gxmojixian · 发表于 2012-8-1 16:59:36

这么长时间了，有没有解决问题啊。我之前也遇到同样的问题，换个牌子的PA就解决。不知道你是不是这样。希望能够分享给大家。

836130519 · 发表于 2012-8-21 08:57:37

skyworks的PA

lieren1986 · 发表于 2012-8-23 10:42:38

请问具体修改哪个NV项？

caiyuanbin84 · 发表于 2012-8-23 09:27:08

我们也用Skyworks的PA，SKY77701，也出现一样问题，不过解决了！修改NV项

wain5434 · 发表于 2012-8-22 16:35:02

内环问题校准的原因居多吧

fengmo44 · 发表于 2012-8-22 10:14:32

不同位置fail原因都不同，你说个位置或者发个截图大家才能帮你定位啊。

wjqarchy · 发表于 2012-9-10 09:48:46

如果是在切换点附近FAIL，可以修改切换点看是否有改善。另外温度补偿也会影响内环指标。

ys5220 · 发表于 2012-10-16 17:47:27

觉得和校准NV数据关系比较大，有好的机器没？有的话读出NV试着对比下！

q413898161 · 发表于 2012-10-16 17:17:54

修改的NV项能不能发个图片来借鉴试试
俺也遇到了找个问题E段过不去 F可以

测试的时候10700的灵敏度只能到-93左右
但是10562 10838 都上了-111
用台三星的机器测试一样，能分析下是仪器还是干扰的问题么
仪器刚刚升级的软件

zhangdaier · 发表于 2014-2-12 15:41:57

路过，学习，ThANKS

xiaohuamao · 发表于 2014-2-13 14:49:37

路过，学习了

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