精心收集的芯片测试资料

Melissa · 发表于 2006-4-27 14:53:00

【文件名】:06427@52RD_芯片测试资料1.rar
【格　式】:rar
【大　小】:1764K
【简　介】:
【目　录】:
1.IDDQ测试
2.集成电路测试的JTAG标准
3.一种适合于SOC系统的JTAG扩展化可测性设计
4.测试生成
5.可测试性分析

Melissa · 发表于 2006-4-27 14:56:00

【文件名】:06427@52RD_芯片测试资料2.rar
【格　式】:rar
【大　小】:1725K
【简　介】:精心收集的芯片测试资料
【目　录】:
1.扫描测试
2.GaAs集成电路芯片在片直接故障检测分析

lisulisu · 发表于 2006-4-28 12:50:00

你这也太贵了吧，抢钱啊

		自动登录	找回密码
密码			注册

[IC设计资料] 精心收集的芯片测试资料