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MTK6252项目量产的时候,在工厂8960上面进行校准的时候,发现进行第一项校准AFC校准的时候,在CAP ID上面校准,直接就走不下去,显示FAIL。在8960上面显示的错误代码如下所示:
CAP ID[0]:0,DAC:4000,Freq:-1.12(PPM),Center Freq:894.00, Tch:20
CAPID[1]:127,DAC:4000,Freq:-81.39(PPM),Center Freq:894.00,Tch:20
AFC calibration time=0.63
Crystal AFC Cali Fail 501
刚开始的时候,怀疑是软件代码的问题,因为在52上面修改了FAT文件系统区域的大小,改变了MTK默认的配置,但是后面将FAT区域还原回去,还是无法校准通过,在试产的时候,总共带了12块板子,后面逐个测试的时候,发现其他的更改了FAT文件系统区域的能够校准通过,但是唯独有两块不能通过,后面通过查询资料,发现影响AFC校准的有以下的因素:
影响AFC的主要方面:
1.26MHz时钟振荡器VCTCXO存在的不良,主要指存在频率偏差;
2.VAFC控制信号存在线路的不良或控制错误;
3.射频接收路经(J600->U601->SAW->U602路径)存在的不良,如断路、器件虚焊、器件不良、及中频内部的频率解调电路存在的不良等;
4.CPU在RF接收部分存在的不良;
后面仔细想想,既然同样的程序在其他的板上面能过,那么说明软件方面是没有问题的,后面想,会不会是晶振的原因呢,于是让硬件工程师将校准通过的板上面的晶振取下来,焊接到这块板上面,奇迹般的之前校准不通过的居然校准通过了,而另外一块,之前校准不通过的的晶振,进过热风枪吹过之后,校准也通过了,问题果真是出在晶振这块上面。
相信很多朋友在52的项目上面也遇到同样的问题,不妨试试换晶振,看是否正常,上面是我的经验分享,如果大家还有其他的经验,希望能够跟帖分享,大家一起学习![em01]
【文件名】:12429@52RD_MTK 校准控制相关.doc
【格 式】:doc
【大 小】:95K
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