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[讨论] 求教关于手机NFC天线的问题

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发表于 2012-1-10 15:53:35 | 显示全部楼层 |阅读模式
请问用在手机NFC天线上的铁氧体,磁导率的虚部对NFC天线的性能有什么影响呢?
[此贴子已经被作者于2012-1-11 9:59:07编辑过]
发表于 2012-1-12 15:15:09 | 显示全部楼层
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我司铁氧体的磁导磁图,有兴趣的朋友可以提供样品做测试!

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发表于 2012-1-12 13:58:06 | 显示全部楼层
也想知道!!!
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 楼主| 发表于 2012-1-11 10:21:37 | 显示全部楼层
谢谢!是否可以理解为,虚部对读卡距离的影响不是特别特别敏感,除非大得离谱。
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发表于 2012-1-11 08:39:53 | 显示全部楼层
μ''相当于损耗,这个数字越大在铁氧体内损耗的能量越大,刷卡距离会相应缩短,但是目前我拿到的铁氧体μ''本身差异不大,还有个别厂家没有明确标示出μ''的实际值,所以究竟影响到多大程度我也不是很确定。
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