测试中的射频线的屏蔽层破损会造成哪些影响？

murphy_zhu

射频线的屏蔽层破损，会导致loss值增大，或者loss值稳定，但测试结果产生跳变嘛？
我验证的结果是，
在LAB里验证的是后，LOSS值很稳定，但是拿到产线测试的时候，便产生了测试结果跳变的情况。

如果这样推断的话，屏蔽层的破损，是外界干扰使测试值产生跳变，但又觉得缺乏合理性，请各位大侠给些看法。

谢谢各位大侠的解答！

v4roc

以下是引用v4roc在2011-12-6 22:07:43的发言：
这应该是由于外界环境干扰引起的。
1.实验室环境如果严格的话属于屏蔽环境，没外界射频干扰。
2.产线上一个方面有实网的干扰，也可能由产线上高频设备引入的干扰。
以上两点在射频线屏蔽层破损的情况下出现的可能性更大。虽然是传导测试，也不可忽视外界干扰的问题。
所以在ISC17025实验室，射频测试实验室是必须建屏蔽室的，所以射频传导测试都要求在屏蔽室环境下进行。

v4roc

这应该是由于外界环境干扰引起的。
1.实验室环境如果严格的话属于屏蔽环境，没外界射频干扰。
2.产线上一个方面有实网的干扰，也可能由产线上高频设备引入的干扰。
以上两点在射频线屏蔽层破损的情况下出现的可能性更大。虽然是传导测试，也不可忽视外界干扰的问题。
所以在ISC17025实验室，射频测试实验室是必须建屏蔽室的，所以射频传导测试都要求在屏蔽室环境下进行。[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p>