请教一个关于ACPR的问题！

我不爱研发 · 发表于 2006-4-14 00:00:00

手机在做Frequency Stability的测试中，常温下，3.6V，低温-20度，-10度，0度，和高温30~50度（温度对频率的稳定度均在标准3.8V电压下测试）均会出现ACPR变坏的现象，最大有20dB的差异（相比正常情况），并且其Frequency Error 最大会到60，000Hz以上，高温和低压的还可以理解，不知低温下为何会出现此问题？？

bestdesign · 发表于 2006-4-14 08:30:00

是开环测量吗?

我不爱研发 · 发表于 2006-4-14 22:12:00

是闭环，今天用那几只做过高低温的手机再做CS，常温下也发现了类似问题，不解[em13]

bestdesign · 发表于 2006-4-19 08:24:00

什么是CS?

我不爱研发 · 发表于 2006-4-19 17:43:00

Conducted Susceptibility, 不是Conter Strike，呵呵！也就是那个Immunity的测试，辐射抗扰度。

bestdesign · 发表于 2006-4-20 08:21:00

你指常温下也有频率偏移大的情况吗？是否晶体被温度试验改变其特性了,重新作过AFC校准在试一下。好吗？你能测你的晶体的特性吗？

我不爱研发 · 发表于 2006-4-21 23:13:00

<P>Tks everyone, the issue has been resolved. It caused by a Cap before the PA.</P>

bestdesign · 发表于 2006-4-24 12:38:00

??怎么回事？能给大家讲讲吗？

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