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[讨论] 10MHz参考源相噪用E4445的相噪选件能测的准吗?请大侠指点!

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发表于 2010-1-24 20:47:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
最近用E4445测试了两个不同参考源,一个为10MHz TCXO,一个为基带PLL输出的10MHz,两个10Hz~1MHz积分相噪E4445测试均为30mdeg,TCXO给射频PLL做参考产生的2GHz信号相噪为500mdeg,基带PLL出来的10MHz做参考却为1.2deg,仔细对比两参考的VPP大小和波形,保证大小,上升时间,平滑程度,过冲基本一致情况下现象不变.所以怀疑4445在测试频率较低的信号时相噪测试已经不准,请相噪方面专家指点.谢谢!
发表于 2010-1-26 11:31:48 | 显示全部楼层
这个要看你的晶振相噪了。如果你的晶振相噪优于4445的底噪,那么测试出来的就是4445的低噪。
现在底噪最低的测试相噪仪器  好像是PN9000
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发表于 2010-1-26 20:57:15 | 显示全部楼层
应该是测不准的。频谱仪本身源的相噪不太好。
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 楼主| 发表于 2010-1-27 21:29:14 | 显示全部楼层
以下是引用maxwells在2010-1-26 11:31:48的发言:
这个要看你的晶振相噪了。如果你的晶振相噪优于4445的底噪,那么测试出来的就是4445的低噪。
现在底噪最低的测试相噪仪器                好像是PN9000               


E4445的底噪没记错的话好像是-155dB/Hz左右(频谱测量模式),光从底噪看应该不会对一般的TCXO(OCXO应该会有影响)相噪测试结果有太大影响才对?MAXWELLS是否是指内部PLL的底噪会比较高呢?

另外想知道4445测试相噪时输入的信号是直接被内部的PLL跟踪还是先经过变频后再跟踪呢?楼上说的内部源不好是如何影响相噪测量的呢?谢谢!
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