w测试内环空控不过，2100频段灵敏度失败，各高手请赐教，用什么方法可以解决

sjtest · 发表于 2009-6-24 19:18:32

w测试内环空控不过，2100频段灵敏度失败，各高手请赐教，用什么方法可以解决
本文来自：我爱研发网(52RD.com) 详细出处：http://www.52rd.com/bbs/post.asp?action=new&boardid=22

nicklew · 发表于 2009-6-25 18:03:28

是量产板还是研发阶段的？

sjtest · 发表于 2009-6-26 13:08:26

是量产板，可能和测试环境有一定的关系，在屏蔽箱、屏蔽房内测试就会好一些但是还是有，失败项一般为E、F不过。主要是现在不清楚这内环与哪些有关系~~~~

wulei534 · 发表于 2009-9-13 00:33:00

内环与供电电源关系比较大，电源不稳定或者供电线路过长，导致手机端电压下降

sammypang · 发表于 2009-9-15 16:13:26

LZ是否可以提供一份研发测试的excel档？如果有的话，比如功率是多少（要测的），标准是多少

ewanna · 发表于 2009-9-30 16:57:04

哪个平台的？高通的平台手动调调nv吧，切换点什么的；尤其是一些静态nv一定要让射频的人调好。从校准找原因会比较好，前提是你的dut手动测试都不是很好。

ccp · 发表于 2009-11-15 18:23:25

好好调下PA

jiajinxiang · 发表于 2009-11-24 20:55:33

这个内环功控确实比较麻烦啊,这个大致的问题就是电源的滤波不好,或者是PA的调试有问题,我们这里是量产的,总是发现部分批次的PA有问题,已经发生很多次了.

tianqiuji · 发表于 2009-11-26 00:07:13

楼主是数据卡吗？

fengmo44 · 发表于 2009-11-27 11:59:03

现在输出功率是多少饱和功率多少一般都是因为功率没调上去不过你这个是3dB步进的问题其他的1 2dB 没问题吗？

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