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[讨论] 晶振一般受什么影响会变不良

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发表于 2009-6-11 11:34:57 | 显示全部楼层 |阅读模式
最近核心板上的晶振总是不良,引起机子不启动[em03]
发表于 2009-6-11 12:40:02 | 显示全部楼层
附近有热源吗
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发表于 2009-6-11 12:54:09 | 显示全部楼层
手机时间总是走时不准?慢还是快了?
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发表于 2009-6-12 16:15:05 | 显示全部楼层

上传个晶振的LAYOUT规则

跟晶振的LAYOUT是否有关系、摆放位置问题什么的。
上传个晶振的LAYOUT规则。。。[upload=jpg]UploadFile/2009-6/09612@52RD_photo11.jpg[/upload]
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发表于 2009-6-12 19:37:18 | 显示全部楼层

做高低温测试的时候会有影响。

做高低温测试的时候会有影响。
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发表于 2009-6-18 11:02:40 | 显示全部楼层
不开机应该是晶体不能起振,可能收温度的影响导致. 因为IC在高温下的LOOP GAIN会减小.

不能抵抗住晶体的内阻能量消耗,但是另外一个方面的原因就是晶体本身的温度特性太差,不够稳定!

任何问题可联系:

飞创 张工:13912601158  zhangshun_666@163.com 有专业的晶振测试仪器
[em05]
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发表于 2009-7-1 09:22:24 | 显示全部楼层
1.你现在用的那晶振是什么材质的? 金属的稳定性好点
2.layout的匹配电容是多少?
3.IC工作温度是多少?
4.做过什么测试后会出现这个无法开机的现象?
基本crystal 不良就是这些分析方向,如果还不行就寄不良品给厂商做切片分析了!
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发表于 2009-7-7 20:35:33 | 显示全部楼层
怎么是英文的,,,,,,,,,,,看不懂
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发表于 2009-8-8 01:43:41 | 显示全部楼层
[em01]
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发表于 2009-12-16 20:03:05 | 显示全部楼层
学习了!!
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