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最近在看MTK手机校准的一些资料:对AFC校准有以下疑问请教各位大虾:
1.AFC校准是不是在校准26MHZ的晶振频率呢?
2. 如果采用有源晶振,则只需要校准ADC,如果采用的crystal,则需要与芯片内部(如MT6139)的振荡电路构成晶振,此时要校准CAP_ID。那么这个CAP_ID是什么?能不能详细介绍一下CAP_ID校准的过程?在校准时有这样的语句:
CAP ID[0]:0,DAC:4000,Freq:66.05(PPM),Center Freq:894.00,Tch:20
CAP ID[1]:63,DAC:4000,Freq:28.10(PPM),Center Freq:894.00,Tch:20
其中CAP ID后的[0],[1]是什么意思?
3.关于校准算法,我有以下观点,不知是否正确,与大家分享:
(1)AFC的校准方法,不管采用什么芯片校准算法是一样的,与采用的BB及RF芯片没有多大关系
(2)ADC的校准(电池电压及充电器的校准)应当只跟BB芯片有关,算法也是一样的,与采用的BB芯片无关
(3)RX 校准的算法应当也是一样的,与采用的RF芯片无关
(4)TX APC的校准算法只跟PA芯片有关,不同的PA校准算法不一样。但是大多也不外乎两种:一种是不校准IP2,一种是需要校准IP2,如Skyworks公司的功放。
以上想法不是是否正确?欢迎大家指教。
4.MTK的校准软件是ATE_Tool, 但是有的公司自己写MTK手机的校准软件,我看到有CV++写的,有Labwindows/CVI写的校准软件,在校准完后要通过串口将校准结果写入到手机中,那么是校准软件是怎么实现将校准结果写到手机里呢?是不是MTK提供了一些API函数,在校准软件里调用这些API函数就可以将校准数据转换成手机能识别的格式写入到手机呢?这些API函数是要从MTK购买的吗?
以上问题较多,希望大家对自己熟悉的部分进行探讨,谢谢! |
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