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[讨论] MTK产线 APC校准另一种算法[讨论]

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发表于 2008-12-10 11:33:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
偶然在产线看到有家DH公司用的BT  FT测试工具,APC测试速度非常快,
手机是MTK平台的,不是展讯

产线一般传统的MTK算法是,根据先用收敛法,根据PA型号,得到2个或3个点的scale值,
然后根据:功率(dBuv)  VS  DAC的直线或抛物线特性,算出其它点,但这样感觉比较慢.

那个工具粗略看了一下:先使DAC=328,得到PCL=9的功率;   DAC=382得到PCL=10的功率.
然后分两段,忽忽地得到PCL=9,8,7,6,5的DAC值,再得到PCL=10,11,.....19的DAC值.

感觉把DAC每变化1,功率增大固定的值(比如0.04dB)写死在程序里面???.

另外此工具,可以把功率平坦度Weight算好,不用RF工程师手动去改了。
发表于 2008-12-11 00:07:01 | 显示全部楼层
有点悬乎,为什么“DAC=328,得到PCL=9的功率;   DAC=382得到PCL=10的功率.“?
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发表于 2008-12-11 13:51:32 | 显示全部楼层
给一个初值,得到功率22.2dBm,和期望值23,差0.8dB,那么应该DAC加多少合适呢~?0.8/0.04=20
0.04这个系数不是固定的,每个等级逐渐增加,但是只要固定就会很快.

事实上,反推以后,又不是我上面想象的那样!
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发表于 2009-11-21 13:16:49 | 显示全部楼层
有点悬乎,为什么“DAC=328,得到PCL=9的功率;   DAC=382得到PCL=10的功率.“?
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发表于 2013-7-15 12:28:54 | 显示全部楼层
APC Calibration fail
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