关于TD性能测试的问题

steve_kuo · 发表于 2008-11-13 17:07:01

最近给TD终端做性能测试时，在多径衰落64K下的解调老出问题，怎么弄都弄不过...
工程师说解调性能测的是个相对值，所以跟补偿线损没有关系，但实际测试时明显有差异~这是为什么呢？
看了3GPP上写的相关东西，也没搞明白这BLER到底是怎么计算出来的...

请教各位大侠~

xjtuknife · 发表于 2008-11-16 22:57:44

64K测试时使用的的是信噪比，线的补偿原则上市没有作用的：有用信号降低（或增加），噪声也降低（或增加），理论上维持信噪比不变，这个一般是DSP算法决定的。可能：1. 线的补偿在不同频率上有明显差别 2. 信号源有补偿差损但是干扰源没有（间接提高了信噪比）

steve_kuo · 发表于 2008-11-24 15:49:05

谢谢~~~~

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