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[讨论] 关于天线附近电介质的问题

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发表于 2008-10-21 16:18:16 | 显示全部楼层 |阅读模式
大家进行天线无源调试时,应该都发现有这样一个现象,就是在光板调试之后,再加上机壳。在网分上就可以发现,整个频带都向低频方向有一定的移动。所以老工程师们说光板调试时,可以偏短一点(频带偏向高频),加上机壳后就正好调平了。手机的外壳是一般是绝缘的塑料材质,因此这样就产生了一个问题,天线附件的电介质的介电常数大小,对于天线的性能是怎样的一种影响?仅仅是频带的移动么?现在常用的弹片加支架的天线结构,支架就是塑料材质,而通常支架材质的改动,会导致天线弹片下方电介质常数的变化,而且考虑到弹片是紧贴支架的,这种材质变化引入的影响应该还是要引起重视的。

达人们,发表下你们的看法吧。
发表于 2008-10-22 15:10:17 | 显示全部楼层
给你顶顶,我不懂
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发表于 2008-10-22 17:25:31 | 显示全部楼层
介电常数变化的话,介质损耗当然会变化了,然后天线谐振频率和效率就都会变了呀。基本上方向图也会跟着变滴......
建议从电磁场最基本的原理看起......
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发表于 2008-10-24 23:48:19 | 显示全部楼层
肯定会变的。有听说过通过调试天线支架来达到天线性能的,不过关键还是在天线上。
对于不同的支架的材料,其介质损耗e不一样,导致天线的电尺寸会有区别,但更重要的是会影响效率,影响增益。
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