嵌入式存储器的测试标准

simonlxh · 发表于 2008-6-4 01:41:02

【文件名】:0864@52RD_嵌入式存储器的测试标准.pdf
【格　式】:pdf
【大　小】:197K
【简　介】:存储器紧凑的结构特征使其更容易受到各类缺陷的影响。存储器阵列工作模式本质上主要是
模拟的，来自存储器件的弱信号被放大到适当的驱动强度，且存储器单元的信号传输只涉及
到很少的电荷。所有这些设计特点都使存储器阵列更容易受到错综复杂的制造缺陷的影响。
而紧密的存储器阵列封装造成了这样一种情况，即相邻单元的状态在存在缺陷的情况下可能
会发生误操作，因此某些缺陷可能只在特定的数据模式下才会暴露。此外，这些缺陷类型很
多是具有时间相关性的，因此只有在正常工作频率下才会被发现。
【目　录】:

piaoyu · 发表于 2008-6-7 11:31:58

偶好穷啊[em03]

qwm · 发表于 2008-6-10 17:21:39

呵呵，简介一下啊！

		自动登录	找回密码
密码			注册

[综合资料] 嵌入式存储器的测试标准