讨教手机ORFS的问题

禺强

我们以前碰到过，手机在做CABLE测试的时候，一切指标正常，但是耦合测试时，开关谱线是超标的。后来也碰到几个案子有这种问题。我有点疑问，因为天线是无源器件，是什么改变了能量的频谱分布？这和天线有无直接的关系？（可以保证板子上无信号泄露）。我想是不是因为天线的效率做的不好，所以导致burst timing形状发生变化而导致前述现象的发生，请指教。谢谢

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