【手机结构问题总结之三】翻盖强度的分析及对策
一.背景项目名称:S5 客户:熊猫 测试条件:翻盖 50000 次
二.问题描述
T1 PRT 试验中,3000 次前壳开始在侧键位置裂开,10000 次完全断裂
三.原因分析
侧键开口位于翻盖测试时壳体变形最大的位置,同时螺钉位于侧键下方,对壳
体没有帮助,造成疲劳开裂.
【文件名】:09623@52RD_翻盖强度的分析及对策.rar
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这样太抢钱了,性价比太低了 学到真本事,这些都是经验教训啊,不要自己再错一次,
我只能说仁者见仁了 呵呵,需要的赶紧下啊, http://www.52rd.com/bbs/showimg.asp?BoardID=20&filename=2009-7/0978@52RD_顶.jpg, http://www.52rd.com/bbs/showimg.asp?BoardID=20&filename=2009-7/0978@52RD_顶.jpg 这样太抢钱了,性价比太低了 希望别骗人,买回来看一下先. 经过验证,发现果然是骗钱的. 学习一下! 暂不发表意见 studied 我现在也在做翻盖手机,学习一下! 下过的兄弟给个回复? 哇,我的钱又被抢光了 谢谢楼主! 好貴唷 !!
要加把勁賺錢 下载到D盘 怎么又收钱的
本文来自:我爱研发网(52RD.com) - R&D大本营
详细出处:http://www.52rd.com/bbs/Detail_RD.BBS_202740_20_1_1.html 大家都来学习的.没必要要价太高
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