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发表于 2007-1-30 11:52:30
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<DIV class=quote><B>以下是引用<I>Meon</I>在2007-1-29 23:18:53的发言:</B>
首先说明纯技术讨论,楼上的兄弟不要急。
第一,你需要可操作的实际方法,那就以Silicon lab 的Transceiver Si4210为例,有专门的application note AN152-SELECTING A CRYSTAL FOR AERO®II DESIGNS 供参考,同时有一个EXCEL的文档专门计算寄生电容及其他参数是否会导致设计失效供参考,我想Silicon labs的Transceiver很多大厂都有用过,你应该也比较容易找到这些文档来看到可操作的实际方法。当然,我记得MTK也有一份RF layout 的PPT有谈到这个,如果你是有LICENSE的MTK方案用户,也可以找他们拿到。
第二,我们这个讨论大多针对DCXO模式,同时主要是指26MHz或13MHz的Crystal的Layout来谈。这里是射频版,所以32.768K 并不在主要考虑之列。32.768K相邻层挖不挖空确实无大碍。
第三,寄生电容的坏处常常并不是直接表现在令你的Crystal无法起振,而是导致你AFC的可调范围变小。因为我默认大家都在讨论的是RF的VC-TCXO或者使用DCXO时的Crystal的layout,要注意GSM标准中 0.1 ppm的频率精度要求不靠AFC是无法达到的
第四,测量输出频率的精度如果你要求看到多少多少PPM用示波器是无法做到的,用示波器只能看个波形和大致频率,如果你要测量是否满足精度要求应该用频率计数器,对于示波器,就算测量32.768K的RTC时钟,200个PPM的偏差都看不出来的。当然,也有可能是现在有足够好的示波器可以量到很准的频率,这一点请指教。(当然,如果Agilent有,可以告知哪个型号最好了)。</DIV>
1. LAYOUT APP NOTE都类似
2. 主题并没有限制RF 还是RTC的晶振,既然是分析透彻,就不需要用排除法来区别看待.如果只是说PCB LAYOUT,哪怕是RTC晶振都应该符合1的APP NOTE.不管如何,挖空都是需要避免的.
3. 寄生电容能够大到另OSC无法震荡?所以你在驳一个不可能出现的情况,我说过了AFC靠IC里面的PLL,不是靠LOAD CAP,LOAD CAP给出一个适合OSC起震的环境.
4, 200个PPM就是200/100,000=1/500;那么32.768K/500=65.536,32.768K+-65.536/2~=32.735~32.801K的精度,不变有效位数只到KHZ,示波器足够可以测到RTC 200PPM的频率漂移
另外,如果你有ORCAD档的原始设计电路图,请看一下负载电容的属性里面,Description是否是选用NPO[/COLOR](+-5%)的电容?我一般选X7R[/COLOR](+-10%)足矣.
而寄生电容在同一批次洗板的PCB中几乎是相同的,还不如电容温漂的影响大,况且此寄生电容数值是固定的\已知的,把此影响无限扩大就显得对设计的不自信,岂非舍本逐末?
有些IC没有内部PLL,需要外接CLK_IN,这样,就只能接有源晶振,此时对负载电容的要求严格些.但主题并非是谈论负载电容的选取方法,而是某RD提出的寄生电容的说法.个人不以为然 |
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