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发表于 2018-4-11 18:09:51
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跟Carrier Leakage, 或称LO leakage有关
因为高通的收发器 一项都是零中频(ZIF)架构
由上图可看到 ZIF的收发器 其IQ讯号上 容易会有直流成份
而由下式可知 就理论而言 IQ讯号上的直流成份若为零
其LO leakage应该是不存在的 透过仿真也证实这点
但实际上很难完全为零 若太过严重 频谱上会看到这情况
以星座图而言 会整体偏移
这当然会劣化EVM 或是CDMA的Rho值
所以IQ Offset 就是在量这东西
而这项是包含在LTE的In band Emission中
回到WCDMA 若输出功率越低 则意味着其SNR越差
而SNR越差 其EVM就越大
也就是说 若有LO leakage 其EVM与输出功率 关系图如下:
这就是为什么最小功率会Fail, 但最大功率却没事
若有这状况发生 原则上你Step E跟Step F的内环功控(ILPC)也会Fail
因为当你RGI(RF Gain Index)一直往下打时 你的RF主频固然会一直下降
但carrier leakage仍屹立不摇站在那边 若振幅大过RF主频
会变成你仪器量到的输出功率 一直不变 因为量到的都是carrier leakage
以上图为例 输出功率停留在约-33 dBm 就下不去了
而ILPC中 最容易Fail的就是Step E跟Step F, 因为动态范围大
(-50 dBm ~ 24 dBm) 要求的精确度又高(Step size = 1 dB)
以刚刚例子而言 输出功率到了-33 dBm就下不去
无法到达Step E跟Step F要求的最低功率-50 dBm 当然ILPC会Fail
所以你可以先验证ILPC 以厘清是否这因素造成
如前述 这是IQ讯号上的直流成份所造成
你若放DC Block 非常可能会连IQ讯号都一并文件掉 因为IQ讯号是极低频的讯号
而若是升频后才放DC Block 因为已经升频成RF了
你放DC Block也砍不掉
解决方案只有两个 要嘛重新校正 因为这只能靠校正去改善
另一个就是检查电路
好比倘若用不到的IQ讯号 直接空接就是
若是接地 则直流讯号可能会从GND窜上去 流入IQ讯号 造成Carrier Leakage
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