高温 EVM问题请教

luren89 · 发表于 2015-3-10 18:51:41

学习了 2楼

dingmin · 发表于 2015-3-11 18:16:32

学习了，二楼！

thought · 发表于 2015-3-11 19:15:58

criterion 发表于 2015-2-13 23:25
这有可能!! 原先我的想法是
如果跟电源有关理论上常温就Fail了不会等到高温才Fail
但是电源线 ...

Hi,
最近还在处理EVM的问题，供给RFIC的电源可以排除了。因为1.3V和2.2V两路电源都有外供，EVM指标并没有改善；
另外这两路电源外供时又提升了0.2V即1.5V和2.4V，同样没有改善
所以电源基本排除了

thought · 发表于 2015-3-11 19:45:34

baishui_l 发表于 2015-2-15 11:03
楼主，PA输入端测试EVM正常吗？如不正常很可能是layout上的问题，不知道你用的是哪个transceiver，之前我遇 ...

PA输入端常温正常，高温异常
高温时确实从WTR输出就异常了
1）修改了NV04212项，Band39的EVM有改善
2）高通已经Review了PCB，暂没发现WTR净空区和XO布线方面明显异常；对比了实验室另外一个项目，WTR的净空区处理基本一致。我项目上WTR对应的第二层地比另外一个项目要更多一些。另外两个项目的XO布线完全一致

请教几个问题：
1）你的项目出问题时，所有单板的B38/40在高温时EVM都偏高吗，还只是一部分单板会偏高？出问题的单板，有没有尝试过信号源外供19.2MHz，外供后问题板是否可以恢复正常？
2）我把不良板的XO干掉，在XO_OUT PIN脚外供19.2MHz的信号源后，不良板的EVM恢复正常（高温EVM 4.5%左右）
3）还有一个现象比较奇怪：将不良板的晶振换同一厂家的新芯片后（XO已经重新校准），此时EVM又可以回到5%左右。就是说同一厂家的两个晶振，在同一块不良板上的表现不一样。如果是净空区处理有问题的话，无论是否更换XO都有类似的问题吧；另外我手上的单板不是所有单板在高温时EVM都偏高，也有EVM正常的单板

thought · 发表于 2015-3-11 20:24:57

本帖最后由 thought 于 2015-3-11 20:40 编辑

criterion 发表于 2015-2-15 20:14
以WTR1605L的Layout Guide而言
确实是开宗明义就说

Cri大神
最近还在做实验确认EVM问题
1）高温时确实从WTR的输出就已经恶化了
2）高通Review了PCB，暂时没有发现净空区处理明显异常的地方
3）单板在60°左右时EVM最差，过了65°后EVM指标又开始下降至5%~7%左右。如果是相噪引起该问题的话，那么相噪随着温度的上升又下降了一些，这个我不是很懂，请问相噪随着温度的升高会再降低吗？
4）同一块不良板，更换同一晶振厂家的新芯片【XO重新校准】，再去测试高温EVM，此时EVM在4~5%左右，不良板恢复正常了。如果是寄生效应引起的EVM恶化，我的理解是无论是否更换XO，不良单板的EVM都会恶化的。因为寄生效应是不变的，相噪也是不变的
——有没有这个可能性：晶振间的相噪不一致，导致叠加寄生效应产生的相噪后的总相噪不一致。所以不良板在同一厂家的晶振上表现也不一致？
5）频谱仪测量了下PMIC输出（WTR的相噪），没有明显的突起
6）如果是相噪恶化的话，我的理解是所有频段的EVM都会受到影响吧

galian1983 · 发表于 2015-4-14 12:47:16

好贴，要是52rd上的都是这样的贴就好了

guoyuan1990 · 发表于 2015-4-19 14:38:16

厲害呀,圍觀學習一下

lingfuhai · 发表于 2015-4-27 12:34:57

请问最后是怎么解决的

criterion · 发表于 2015-5-24 11:48:20

thought 发表于 2015-3-11 20:24
Cri大神
最近还在做实验确认EVM问题
1）高温时确实从WTR的输出就已经恶化了

分几个问题来讨论好了:

1. 『请问相噪随着温度的升高会再降低吗？』

由你的实验看来现象大概是这样吧

由下图可知  VCO 的Phase Noise确实是会跟着温度变化
当Offset Frequency  = 20MHz跟1MHz时(绿色跟灰色曲线)
我们可看到其Phase noise在室温时(25度C)是最小的
之后随着温度上升  其Phase Noise也跟着上升

但其他的Offset Frequency 就未必是这种趋势
例如Offset Frequency = 10KHz时(黑色曲线)
60度的Phase Noise就比40度还小
所以还要看你的Offset Frequency
所以换句话说  还要看真正影响TX讯号的Phase Noise
是哪个Offset Frequency
但原则上  不管哪个Offset Frequency  室温的Phase Noise都会是最小

当然你会说  上图那是VCO啊跟XO有啥关联?
问题是  你VCO也是由XO来的啊

如果XO有这趋势  VCO或多或少也会有这趋势

2. 『把不良板的XO干掉，在XO_OUT PIN脚外供19.2MHz的信号源后，不良板的EVM恢复正常』

『同一块不良板，更换同一晶振厂家的新芯片【XO重新校准】，再去测试高
  温EVM，此时EVM在4~5%左右，不良板恢复正常了』

如果今天你外灌19.2 MHz  依旧无改善
那我就会怀疑那Phase Noise的劣化是来自于VCO
那就是要进一步作WTR的SWAP实验
但你这样看来现象就是跟着XO在跑啊  Root Cause应该就是XO

3. 『有没有这个可能性：晶振间的相噪不一致，导致叠加寄生效应产生的相噪后的总相噪不一致。
         所以不良板在同一厂家的晶振上表现也不一致？』

绝对有啊! 因为你说手上的单板不是所有单板在高温时EVM都偏高，也有EVM正常的单板
那基本上就先屏除Design因素  也就是Layout
因为如你所说  若是Layout造成
不管换不换XO  都是会Fail
更何况高通也Review过了认为没啥问题  那应该更可屏除这因素
一般而言若是Design issue 原则上会每个单板都有问题
但若是部份单板有问题  Fail Rate并非百分百那就比较会是Material issue
量产时  因为量大  更可看出这趋势

当然你会说  同一厂家的晶振理论上Peformance都一致啊
怎会是Material issue ?
这说法基本上不太对  即便是同一厂家  同一型号的料
也会有些料的Performace特别差
因为可能某批料在生产过程中也许是制程因素或封装因素之类的
导致性能特别差
每颗料都会有Date Code  这看Date Code或许可观察出
所以量产时常会出现这现象

某段时间的不良率特别高那可能就是那段时间工厂进来的料有问题
所以简单讲  你不良单板的XO有问题
可能要看一下其Date Code与好板的XO  是否有所差异

4. 『如果是相噪恶化的话，我的理解是所有频段的EVM都会受到影响吧』

理论上是这样  因为所有频段的LO  都是要来自XO
既然XO是凶手  应该所有频段的EVM都会受影响
这你可以做实验    同样温度下
好板跟坏板在其他Band的EVM  是否有所差异?
有可能其实其他Band也是有差异只是因为都Pass  所以你忽略了
建议直接用Band 7作实验因为由下图可知
Phase Noise会跟频段有关

而Band 7的频率范围跟B38/B40最相近
所以理论上  坏板Band 7的EVM 应该也会比好板来的高  只是没有Fail

如果没啥太大差异那合理解释就是Offset Frequency不同

仔细看  Band7的TX频率范围  跟B38/B40是不同的
因此即便同温度同一颗XO
但Phase Noise的影响不同

另外还有一点解Bug时常会遇到
『牵一发不动全身』的现象  如下图:

如你讲的  理论上XO出问题所有Band都要出事
但实际上只有B38/B40出事
因此解Bug时
不可因为只有B38/B40出事  其他Band都无事
就判定XO是清白的

再举个例子  天下Bug出电源
理论上PA电源有问题所有Tx 性能都会劣化
但实际上  很可能就只有EVM出事  ACLR是好的
所以解Bug时不可因为Tx性能劣化非全面性
就判定PA电源是清白的

这种『牵一发不动全身』的现象
我不太会解释但实际作案子时  遇过非常多次
这点要特别注意

realealon · 发表于 2015-5-25 17:12:23

请问外灌19.2是指从PMU的crytstal_19m_out还是_in灌进去？

galian1983 · 发表于 2015-8-4 13:09:51

好贴~~必须顶

june900203 · 发表于 2015-8-17 18:53:43

好贴！学习学习学习

zhang0fei · 发表于 2015-8-18 22:26:43

RFMD的PA，之前一样的问题，换一颗之前PIN TO PIN的PA就好了

岩燕芳菲 · 发表于 2015-8-21 12:35:48

好贴，学习一下

wjqarchy · 发表于 2015-8-27 14:15:27

好贴，希望能多看到类似的案例分享。

lvcxl · 发表于 2015-8-28 21:38:25

MARK 好[em01]

transceiver · 发表于 2015-8-30 11:21:29

好牛逼，学习了

jerry1522 · 发表于 2015-9-2 10:48:32

同一块不良板，更换同一晶振厂家的新芯片【XO重新校准】，再去测试高温EVM，此时EVM在4~5%左右，不良板恢复正常了。如果是寄生效应引起的EVM恶化，我的理解是无论是否更换XO，不良单板的EVM都会恶化的。因为寄生效应是不变的，相噪也是不变的
——有没有这个可能性：晶振间的相噪不一致，导致叠加寄生效应产生的相噪后的总相噪不一致。所以不良板在同一厂家的晶振上表现也不一致？

换不同颗晶振(即使是同一lot)EVM会变好，很明确变因影响就是来自晶振

晶振 ESR也是影响 EVM (Phase noise )的一个绝对因素，如图即使同一lot 也有可能会有变异的晶振，其在常温下的ESR 变化正常，但到高温时就有劣化的情形，因而影响高温EVM performance.

18810831878 · 发表于 2015-9-7 17:25:20

Cri 神一样的存在

winner5731 · 发表于 2015-9-10 16:54:38

我也遇到了过EVM挂的问题，TDD所有的频段都挂了，不良率有50%，当时换了其他家的XO就好了，就让TST的人拿去分析了，到现在他们也没个说法，现在我还在怀疑是不是我没找对方向[em03]。。。看了大神的回帖，受益匪浅啊。

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