手机（其他设备）外壳对天线谐振频率的影响

liuzixiao · 发表于 2014-6-19 11:33:56

各位同仁好，我之前做过两年的手机天线，近来一直专注于做wlan(2.4G和5G）的天线。在做手机天线的时候，一直认为手机外壳将使天线谐振频率往低频偏；现在做的wifi 2.4G也有同样的影响（往低频偏），但是机壳对5G的谐振几乎无影响，这怎么解释？这种频偏必然是介电常数的改变引起的相对波长的变化，但是具体如何的影响，有哪位大神具体研究过吗？

而且同样的PCB天线，不同FR4基材，2.4G竟然频偏了，5G反倒无影响，不好解释啊，请大牛解惑，多谢！！！

xunshui2007 · 发表于 2014-6-19 13:36:16

有关系的，材料的介电常数形成主要是由某些极化引起的，所谓极化是某些偶极子定向排列产生，由于频率的变化，偶极子随外场反转，当频率很高，由于材料内部一定的阻力，使偶极子反转跟不上电场的速度，就会形成一种驰豫，驰豫也是介质材料产生损耗的原因之一，高频情况下，有些偶极子停止反转，所以对介电常数的贡献为零。材料中一般都存在好几种极化方式，各种极化驰豫发生的频段不一样，所以总的来说，随着频率的升高，介电常数一般减小。

liuzixiao · 发表于 2014-6-20 10:22:55

xunshui2007 发表于 2014-6-19 13:36
有关系的，材料的介电常数形成主要是由某些极化引起的，所谓极化是某些偶极子定向排列产生，由于频率的变 ...

多谢楼上的仁兄，能否给一份更详细的资料或者相关链接和书籍，你说的好深奥啊！！！！！！！！！！！！！！

liuzixiao · 发表于 2014-6-20 10:25:18

电介质的极化
编辑

在外电场作用下，电介质内部沿电场方向产生感应偶极矩，在电介质表面出现极化电荷的现象叫作电介质的极化。
电介质在外电场作用下可产生如下3种类型的极化：
①原子核外的电子云分布产生畸变，从而产生不等于零的电偶极矩，称为畸变极化；
②原来正、负电中心重合的分子，在外电场作用下正、负电中心彼此分离，称为位移极化；
③具有固有电偶极矩的分子原来的取向是混乱的，宏观上电偶极矩总和等于零，在外电场作用下，各个电偶极子趋向于一致的排列，从而宏观电偶极矩不等于零，称为转向极化。

rig · 发表于 2014-6-20 20:01:27

楼主是在南京吗[em01]

hugeberger · 发表于 2014-6-22 21:26:49

这里补充下：你说的RF4基材变了，那你的介电常数肯定应该不一样了，就如楼上说的频率变高，介电常数是降的，这是一个因素，第二个因素要看你的天线PATTERN，

rig · 发表于 2014-7-2 09:24:08

[em01]

xiaowei520 · 发表于 2014-8-10 16:36:52

RF4 有不同的有国际版的RF4 介质会有所差别

F1030964 · 发表于 2014-11-19 00:46:19

介电常数跟频率有关，现在一般是1G时的数值吧

cyy3399 · 发表于 2014-11-21 15:18:11

学习了

shouhengdinglv · 发表于 2015-1-29 10:00:51

学习学习……请问楼主，测量天线参数的时候是否应该将天线安装于实际使用环境中？比如机壳内部之类的？

calvin_kim · 发表于 2015-1-30 04:29:48

我学习了。。。。太强大了。

ivy2015 · 发表于 2015-4-22 11:25:41

学习学习了

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