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[资料] 发光二极管失效分析

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发表于 2008-8-27 21:49:55 | 显示全部楼层 |阅读模式
【文件名】:08827@52RD_发光二极管失效分析.doc
【格 式】:doc
【大 小】:195K
【简 介】:LED失效分析方法
2.1 减薄树脂光学透视法
在LED失效非破坏性分析技术中,目视检验是使用最方便、所需资源最少的方法,具有适当检验技能的人员无论在任何地方均能实施,所以它是最广泛地用于进行非破坏检验失效LED的方法。
【目 录】:


发表于 2008-8-27 22:20:17 | 显示全部楼层

发光二极管失效分析

【文件名】:08827@52RD_发_光_二极管失效分析.doc
【格 式】:doc
【大 小】:195K
【简 介】:同上,帮忙降降价
【目 录】:采用合适的分析方法,最大限度地防止把被分析器件(DUA)的真正失效因素、迹象丢失或引入新的失效因素,以期得到客观的分析结论。针对LED所具有的光电性能、树脂实心及透明封装等特点,在LED早期失效分析过程中,已总结出一套行之有效的失效分析新方法。


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发表于 2008-8-28 08:52:47 | 显示全部楼层
太贵了
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