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简单来说,传统(前照式)CMOS、背照式(Back-illuminated)CMOS、堆叠式(Stacked)CMOS之间,最大最基础的差别就在于其结构。
影响最终成像效果不仅仅靠CMOS,还需要考虑镜头以及拍照算法等。
其实并不是越先进的结构也一定更好,这得看用了什么工艺(比如180nm沉浸式光刻还是500nm干刻)和技术(比如索尼“Exmor”每列并列独立的模拟CDS+数模转换+数字CDS的标志性的降噪读出回路)。优异的工艺和技术可以使得即便不使用更新结构的CMOS,同样拥有更好的量子效率、固有热噪声、增益、满阱电荷、宽容度、灵敏度等关键型指标。
在相同技术和工艺下,底大一级的确压死人(微单吧名言)。
人类的进步就是在不断发现问题,解决问题。
背照式以及堆栈式CMOS的出现,也是为了解决之前CMOS的种种问题。
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一、传统(前照式)CMOS与背照式(Back-illuminated)CMOS
传统CMOS真正的名称应该是前照式CMOS,这两个放一起介绍风味最佳~
先看一张前照式和背照式的横剖对比图示。
一般的CMOS像素都由以下几部分构成:片上透镜(microlenses)、彩色滤光片(On-chip color filters)、金属排线、光电二极管以及基板。
传统的CMOS是图中左边的“前照式”结构,当光线射入像素,经过了片上透镜和彩色滤光片后,先通过金属排线层,最后光线才被光电二极管接收。
大家都知道金属是不透光的,而且还会反光。所以,在金属排线这层光线就会被部分阻挡和反射掉,光电二极管吸收的光线能就只有刚进来的时候的70%或更少;而且这反射还有可能串扰旁边的像素,导致颜色失真。(目前中低档的CMOS排线层所用金属是比较廉价的铝(Al),铝对整个可见光波段(380~780nm)基本保持90%左右的反射率。)
这样一来,“背照式”CMOS就应运而出了,其金属排线层和光电二极管的位置和“前照式”正好颠倒,光线几乎没有阻挡和干扰地就下到光电二极管,光线利用率极高,所以背照式CMOS传感器能更好的利用照射入的光线,在低照度环境下成像质量也就更好了。
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二、背照式(Back-illuminated)与堆叠式(Stacked)
堆叠式CMOS最先出现在索尼推出的移动终端用CMOS上,Exmor RS为其注册商标。
堆叠式出现的初衷其实不是为了减少整个镜头模组的体积,这个只是其附带好处而已。
CMOS的制作和CPU的制作类似,需要特殊的光刻机对硅晶圆进行蚀刻,形成像素区域(Pixel Section)和处理回路区域(Circuit Section)。像素区域就是种植像素的地方,而处理回路顾名思义,就是管理这一群像素的电路。
为了提高像素集合光的效率,需要引入光波导管。光波导管的干刻过程中,硅晶圆和像素区域会有损伤,此时则要进行一个叫做“退火(annealing process)”的热处理步骤,让硅晶圆和像素区域从损伤中恢复回来,这时候需要将整块CMOS加热。好了,问题来了,这么一热,同在一块晶圆上的处理回路肯定有一定的损伤了,原先已经“打造”好了的电容电阻值,经过退火后肯定改变了,这种损伤必定会对电信号读出有一定影响。
这么一来,处理回路躺着都中枪,像素区域的“退火”是必须的。
还有一个问题,索尼目前建有的移动终端用CMOS的制程是65纳米干刻,这个65纳米的工艺对于CMOS的像素区域的“种植”是完全足够的。但是处理回路区域的“打造”,65纳米是不够的,如果能有30纳米(实际提升至45nm制程)的工艺去打造电路,那么处理回路上的晶体管数量就几乎翻番,其对像素区域的“调教”也就会有质的飞跃,画质肯定相应变好。但因为是在同一块晶圆上制作,像素和回路区域需要在同一个制程下制作。
处理回路:“怎么吃亏的总是我!”
如此鱼和熊掌不可兼得的事情,假如解决了多好!于是索尼的工程师打起了晶圆的基板 (BOSS登场)的主意。
先来看这张结构图。原来处理回路是和像素区域在同一块晶圆上打造的。那么不妨把处理回路放到那里去?那么不妨把处理回路放到那里去?
首先利用SOI和基板的热传导系数差异,通过加热将两者分开。
像素区域放到65纳米制程的机器上做,处理回路则放到制程更高(45nm)的机器上做。
然后在拼在一起,堆栈式CMOS也就这样诞生了。
上边遇到的两个问题:
①像素“退火”时回路区域躺着中枪。
②在同一块晶圆上制作时的制程限制。
均迎刃而解!
堆叠式不仅继承了背照式的优点(像素区域依然是背照式),还克服了其在制作上的限制与缺陷。由于处理回路的改善和进步,摄像头也将能提供更多的功能,比如说硬件HDR,慢动作拍摄等等。
像素与处理回路分家的同时,摄像头的体积也会变得更小,但功能和性能却不减,反而更佳。像素区域(CMOS的尺寸)可以相应地增大,用来种植更多或者更大的像素。处理回路也会的到相应的优化(最重要不会在“退火”中枪了)。
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